納米顆粒粒徑檢測：顆粒的大小稱為粒度，通常球體顆粒的粒度用直徑表示，立方體顆粒的粒度用邊長表示。粒徑是顆粒的直徑。然而實際中的顆粒大多是不規(guī)則的，所以，為了更方便的描述顆粒的大小，在實際測算中，將不規(guī)則的顆粒等效為規(guī)則球，并以其直徑作為顆粒的粒度。這就是“等效圓球理論”。
 

　　納米顆粒粒徑檢測的方法主要有篩分法、光阻法、動態(tài)光散射、超聲波法、沉降法、電阻法、激光散射/衍射法、電子顯微鏡和顯微(圖像)法。那么這幾種方法各自具備哪些優(yōu)點呢？
 

　　納米顆粒粒徑檢測方法的優(yōu)點介紹：
 

　　篩分法設備簡單，操作簡便，易于實行，設備造價低。
 

　　光阻法的測量精度較高繁瑣。
 

　　動態(tài)光散射法具有準確、快速、可重復性好等優(yōu)點。
 

　　超聲波法可對高濃度漿料直接測量。
 

　　沉降法原理直觀，分辨率較高，價格及運行成本低。操作簡便，儀器可以連續(xù)運行，價格低，準確性和重復性較好，測試范圍較廣。
 

　　電阻法測量精度高，操作簡便，測量速度快，重復性較好，通常范圍在0.5～100μm。
 

　　激光散射/衍射法操作簡便，測試速度快，測試范圍廣，重復性和準確性好，可進行在線測量和干法測量。測試速度快，自動化程度高，操作簡便，重復性和真實性好，可以測試干粉樣品，可以測量混合粉、乳濁液和霧滴等。
 

　　電子顯微鏡法適合測試超新顆粒甚至納米顆粒，分辨力高，可進行形貌和結構分析。
 

　　顯微(圖像)法可以直接觀察顆粒的形貌，可以準確地得到球型度、長徑比等特殊數(shù)據(jù)，適合分布窄的樣品。