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澳譜特科技參加中國顆粒學會第十一屆學術年會

 更新時間:2021-06-02 點擊量:3102

       2020年10月24日,中國顆粒學會第十一屆學術年會暨海峽兩岸顆粒技術研討會在廈門市盛大開幕。本屆會議由中國顆粒學會、大同大學(臺北)、臺北科技大學共同主辦,中國顆粒學會生物顆粒專業(yè)委員會、集美大學、省部共建煤炭高效利用與綠色化工國家重點實驗室、青島科技大學、中國計量大學協辦。本次會議圍繞顆粒的測試與表征,顆粒制備、處理與應用,疫情后的氣溶膠科學發(fā)展與未來趨勢等主題,設置了16個學術分會場,雖然目前疫情還沒有解除,但參會人數超過1500人。

 

大會現場

        顆粒學相關專家學者、企業(yè)代表帶來一場高水平學術盛宴,彰顯著中國顆粒學的蓬勃發(fā)展。除了學術交流,本次年會還同期舉辦顆粒/粉體技術、設備和儀器展,展覽內容包括:測試分析儀器,顆粒/粉體制備技術及設備、顆粒/粉體材料及產品、顆粒/粉體應用等。

       澳譜特科技攜帶新推出的納米粒度及Zeta電位分析儀和動態(tài)圖像粒度粒形分析儀參加了此次年會。納米粒度及Zeta電位分析儀使用動態(tài)光散射技術測量納米顆粒粒度,使用電泳光散射技術測量電泳遷移率和Zeta電位,是測量納米顆粒粒度和Zeta電位的不錯選擇。動態(tài)圖像粒度粒形分析儀可以迅速采集數萬個顆粒的圖像,利用先進的數字圖像處理算法提取顆粒的特征參數,快速獲得顆粒的粒度及粒形信息,以便深入了解產品或工藝狀態(tài)。展會期間,澳譜特科技的兩款儀器受到了業(yè)內人士的*。
       本屆顆粒學大會討論的內容廣泛且具有深遠的現實意義,激勵我們持續(xù)不斷改進產品性能,滿足廣大用戶的需求。

展會現場

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